Zeta電位分析儀是一款新型的、多用途分析儀，是采用光子相關光譜法、電泳光散射以及FST技術來分析的麥克默瑞提克納米粒度儀和zeta電位一體機，并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標準。該儀器采用了高靈敏度測量技術，可同時滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求，濃度范圍由0.001%到40%，可檢測粒徑從0.6nm到10μm，濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。 Zeta電位分析儀的產(chǎn)品應用：
1、半導體
研究半導體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。
2、醫(yī)藥和食品行業(yè)
乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究（微囊）。
3、陶瓷和顏料工業(yè)
表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化鋁、二氧化鈦等）和無機溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。
4、聚合物和化工領域
乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制（藥品和工業(yè)用途）。電解聚合物（聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等）功能研究，控制造紙和生產(chǎn)紙漿過程研究，紙漿添加劑研究。
Zeta電位分析儀采用電聲學原理來測量顆粒的電動特性。在分散系中加入1個高頻的電場，則帶電顆粒相相應電場內(nèi)進行電泳。如果在顆粒與液體之間產(chǎn)生1個密度差，則這種運動會產(chǎn)生1個交互的聲波。采用該電場和對應的聲波技術可對樣品進行無干擾的測量，不會破壞樣品的特性。
